Михайлов А. А. (Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург, Россия)
|
Рассматривается отклонения в спектральной характеристике пропускания привносимые отклонениями от заданной толщины оптического покрытия, которое нанесено на образующие цилиндрической поверхности, с помощью резистивного испарения в вакуумной камере.
Ключевые слова:Цилиндрическая поверхность, оптическое покрытие, интерференционное покрытие
|
|
|
Читать полный текст статьи …
|
Ссылка для цитирования: Михайлов А. А. Влияние отклонений в распределении по толщине нанесенного на образующие цилиндрической поверхности оптического покрытия на его спектральную характеристику пропускания // Современная наука: актуальные проблемы теории и практики. Серия: Естественные и Технические Науки. -2014. -№11-12. -С. 62-64 |
|
|