Чепайкин  Иван Алексеевич   (НИЯУ МИФИ (Москва))
                
            
            
    
        
            | 
                
                    
                        |  | Статья посвящена анализу рынка гамма-радиографии – методу неразрушающего контроля, принцип работы которого основан на экспонировании контролируемого объекта на пленку в результате воздействия гамма-излучения. Приведена и проанализирована таблица рекомендуемых сценариев использования методов неразрушающего контроля. Проанализирован глобальный и Российский рынки гамма-радиографии. Сформулированы тенденции изменения рынка гамма-радиографии в России и действия, которые необходимо предпринять для развития этого рынка. Ключевые слова:неразрушающий контроль, гамма-дефектоскоп, гамма-радиография, NDT, ИИИ, дефекты сварных швов. |  | 
        
            |  | 
        
            | Читать полный текст статьи …  | 
        
            | 
 
 
                
                    
                        | Ссылка для цитирования: Чепайкин  И. А. Обзор мирового рынка приборов неразрушающего контроля. Гамма-дефектоскопия // Современная наука: актуальные проблемы теории и практики. Серия: Естественные и Технические Науки. -2016. -№07. -С. 10-16
 |  |  |