Яцышен  Валерий Васильевич   (Профессор, ФГАОУ ВО "Волгоградский государственный университет" )
                
            
            
    
        
            | 
                
                    
                        |  | В работе приводятся результаты моделирования процесса отражения эллиптически поляризованного света от наноструктуры с дефектом. Показано, что угловые спектры модуля комплексного эллипсометрического параметра отраженной волны имеют четко выраженные максимумы, которые достигаются при   =  и  =   соответственно для идеальной наноструктуры и структуры с дефектом. При этом максимум этого параметра во втором случае примерно в 3 раза превосходит максимум в первом. Аргументы комплексных эллипсометрических параметров для исследуемых двух случаев наблюдаются значительные отличия в области углов падения  . Оба угловых спектра эллипсометрических параметров демонстрируют ярко выраженное различие в зависимости от угла падения для идеальной наноструктуры и структуры с дефектом, что может служить более тонким инструментом диагностики по сравнению с обычными энергетическими спектрами отражения и прохождения. Показано, что особую чувствительность к дефекту проявляет форма и характер эллипса поляризации отраженного от наноструктуры  эллиптически поляризованного света. Ключевые слова:периодическая наноструктура, отраженная волна  дефект, эллипсометрические параметры, угловые спектры, эллиптическая поляризация. |  | 
        
            |  | 
        
            | Читать полный текст статьи …  | 
        
            | 
 
 
                
                    
                        | Ссылка для цитирования: Яцышен  В. В. Математическое моделирование взаимодействия эллиптически поляризованного света с периодической наноструктурой, содержащей дефектный слой // Современная наука: актуальные проблемы теории и практики. Серия: Естественные и Технические Науки. -2022. -№12. -С. 107-113 DOI 10.37882/2223-2966.2022.12.40
 |  |  |